专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]测试的应用模块-CN200510089798.2无效
  • 陈文祺 - 陈文祺
  • 2005-08-09 - 2007-02-14 - G01R1/02
  • 一种测试的应用模块,该应用模块可设置于半导体的测试上,该应用模块具有一电路,该电路底部设有多个导接件,该电路上设有一应用电路,该应用电路随不同的需求而变化设计,该电路以导接件焊接于该测试上,使该电路测试达成电连接;因此,能使半导体的测试具有较佳的适用性,而能有效地降低制作成本。
  • 测试应用模块
  • [发明专利]一种穿壁焊电池用测试模块-CN202010281779.4在审
  • 孟祥辉;陈海龙;黄东良;张雷 - 河北奥冠电源有限责任公司
  • 2020-04-11 - 2020-06-19 - G01R31/379
  • 本发明公开了一种穿壁焊电池用测试模块,包括测试模块底板、测试模块测试模块中心轴、测试模块定位轴和测试模块定位套筒,所述测试模块底板的上方设有测试模块,且测试模块底板顶端的中心位置处固定有测试模块定位套筒,并且测试模块定位套筒内部的顶端设有测试模块定位轴,测试模块定位轴的顶端延伸至测试模块定位套筒的外部并与测试模块的底端固定连接,所述测试模块定位套筒两侧的测试模块底板顶端皆固定有测试模块导向筒,且测试模块导向筒内部的顶端设有活动块体本发明不仅避免了测试模块使用时测试模块产生偏移的现象,提高了测试模块使用时的稳定性,而且确保了测试模块使用时的测试效果。
  • 一种穿壁焊电池测试模块
  • [实用新型]WiFi模块测试装置及设备-CN201921847142.6有效
  • 王洋;吕现彬 - 广州视源电子科技股份有限公司
  • 2019-10-30 - 2020-09-11 - G01R31/00
  • 本实用新型公开一种WiFi模块测试装置及设备,属于测试设备领域。WiFi模块测试装置包括上端开有避让孔的屏蔽盒组件、测试模块和载压头;测试模块均设于屏蔽盒组件内,测试上设有与测试点对应的探针;模块活动并间隔位于测试的上方,模块用于承载WiFi模块,并可移动至测试点与探针抵接的位置;载压头能推动模块移动,载压头包括与模块连接的连接部和封堵避让孔的封堵部。WiFi模块测试设备包括多个上述WiFi模块测试装置。将测试用结构(如测试模块和载压头)和屏蔽结构(屏蔽盒组件)集成一体,压合治具测试的同时,实现密封屏蔽,简化操作步骤,减小整体尺寸,实现自动化的多模块同时测试
  • wifi模块测试装置设备
  • [实用新型]一种穿壁焊电池用测试模块-CN202020523574.8有效
  • 孟祥辉;陈海龙;黄东良;张雷 - 河北奥冠电源有限责任公司
  • 2020-04-11 - 2020-12-11 - G01R31/379
  • 本实用新型公开了一种穿壁焊电池用测试模块,包括测试模块底板、测试模块测试模块中心轴、测试模块定位轴和测试模块定位套筒,所述测试模块底板的上方设有测试模块,且测试模块底板顶端的中心位置处固定有测试模块定位套筒,并且测试模块定位套筒内部的顶端设有测试模块定位轴,测试模块定位轴的顶端延伸至测试模块定位套筒的外部并与测试模块的底端固定连接,所述测试模块定位套筒两侧的测试模块底板顶端皆固定有测试模块导向筒,且测试模块导向筒内部的顶端设有活动块体本实用新型不仅避免了测试模块使用时测试模块产生偏移的现象,提高了测试模块使用时的稳定性,而且确保了测试模块使用时的测试效果。
  • 一种穿壁焊电池测试模块
  • [实用新型]FCT测试系统-CN202222834586.4有效
  • 鲍孟;冯锦瑾;刁章宇;姚玉辉 - 苏州谷夫道自动化科技有限公司
  • 2022-10-26 - 2023-03-24 - G01R31/28
  • 本实用新型提供了FCT测试系统,包括上位机、控制模块测试模块、待测和伺服电机模块,上位机与控制模块通讯连接,上位机设置有交互面板;控制模块分别与测试模块、待测和伺服电机模块相连,控制模块用于接收上位机发出的测试指令并向测试模块和待测发出控制信号,测试模块用于触发待测相应功能进行测试,待测与伺服电机模块相连,待测将报警信息反馈至控制模块,伺服电机模块将编码器信息反馈至控制模块。本实用新型提供的FCT测试系统,测试人员能够简单、快速、安全地实现待测测试,提高测试效率;提高FCT测试的自动化程度,降低测试难度,降低测试错误率,提高产品良率,降低生产成本。
  • fct测试系统
  • [实用新型]一种电路老化测试设备-CN202223601825.8有效
  • 陈国强;王建宾;陈峥 - 河南长润自动化系统有限公司
  • 2022-12-30 - 2023-06-09 - G01R31/28
  • 本实用新型涉及一种电路老化测试设备,电路老化测试设备包括机架、测试模块和电路压紧模块测试模块设在机架下部,电路压紧模块设在机架上部,测试模块用于与待测试电路连接以对待测试电路进行测试,电路压紧模块用于将待测试电路测试模块连接,电路压紧模块包括驱动装置和压紧,驱动装置设在机架上部,驱动装置下端与压紧连接,用于驱动压紧上下移动,压紧上设置有用于压紧待测试电路的压针。本实用新型结构合理,测试效率高,能够快速完成电路的老化测试
  • 一种电路板老化测试设备
  • [发明专利]模块固件测试系统及方法-CN202310490233.3在审
  • 郑定瑞;李林科;吴天书;杨现文;张健 - 武汉联特科技股份有限公司
  • 2023-05-04 - 2023-07-28 - H04B10/073
  • 本发明涉及光模块测试技术领域,公开了一种光模块固件测试系统及方法。该系统包括测试、示波器、光分路器以及上位机;测试与示波器均连接上位机,测试上搭载待测光模块,待测光模块测试通信连接,测试还通过数据信号管脚连接示波器,待测光模块的发射端通过光分路器连接示波器本发明通过上位机下发待测光模块固件测试测试指令至测试测试响应测试指令并运行光模块固件测试脚本,以实现待测光模块的固件测试;上位机还读取示波器所显示的固件测试波形并进行测量和记录,以生成待测光模块测试报表,实现光模块自动化测试,更好地实现测试全覆盖,从而提高了光模块固件测试效率。
  • 模块测试系统方法
  • [发明专利]电路测试结构及装置-CN201910977979.0在审
  • 汪世新;郭雄武 - 成都欧珀移动通信有限公司
  • 2019-10-15 - 2021-04-16 - G01R31/304
  • 本公开是关于一种电路测试结构及装置,所述电路测试结构包括电路和第一无线收发模块;所述电路上设置有待测试模块和信号输入端口,所述待测试模块和所述信号输入端口连接,所述信号输入端口用于将测试信号输入所述待测试模块;第一无线收发模块设于所述电路,和所述待测试模块连接,所述第一无线收发模块用于发送所述测试结果信号至测试装置,所述测试结果信号为所述待测试模块响应所述测试信号而输出的信号。利用无线收发模块和电路测试装置通信,实现了电路的无线测试,解决了相关技术中需要在电路上设置测试焊盘而导致的电路有效利用率低的问题。
  • 电路板测试结构装置
  • [实用新型]一种变压器测试系统-CN201420197926.X有效
  • 李飞;张继平;高静;刘晶鑫;张晓友;周鑫;张晓磊 - 北京航天光华电子技术有限公司
  • 2014-04-22 - 2014-10-08 - G01R31/00
  • 本实用新型公开了一种变压器测试系统,包括供电模块、控制模块测试模块,选通模块、转接电缆和测试工装,测试模块包括电感测试仪、电性能测试仪、波形测试仪和绝缘抗电测试仪,选通模块包括选通和绝缘,供电模块分别与测试模块和选通模块连接,控制模块分别与测试模块和选通模块连接,测试模块中的电感测试仪、电性能测试仪和波形测试仪与选通连接,绝缘抗电测试仪与绝缘连接。选通和绝缘的输出端通过转接电缆与测试工装连接。变压器测试系统通过测试工装与待测变压器的各个绕组连接,在控制器的作用下实现对多种变压器的各种不同参数的自动测试,取代了传统的人工测试,大大提高了测试效率。
  • 一种变压器测试系统
  • [发明专利]一种芯片测试装置-CN202210246629.9在审
  • 黄琰;朱雨汝 - 长鑫存储技术有限公司
  • 2022-03-14 - 2022-06-14 - G01R31/28
  • 本申请涉及半导体制造领域,公开了一种芯片测试装置,包括测试、放置模块和按压模块测试具有测试工位;放置模块包括底板、导向模块和探针,底板设有多个第一探针孔,探针的第一端穿过第一探针孔后与测试电性连接;导向模块用于放置芯片,导向模块设置于底板背离测试的一侧,且可相对底板沿朝向测试或远离测试的方向移动;按压模块设置于放置模块背离测试的一侧,按压模块包括压块、加热模块和驱动装置,驱动装置连接压块,并用于驱动压块沿朝向测试或远离测试的方向移动;加热模块与压块导热连接。上述芯片测试装置,不仅可实现芯片在高低温下的测试,还可便于更换芯片进行测试,省时省力。
  • 一种芯片测试装置
  • [实用新型]集成电路测试装置-CN202020298026.X有效
  • 陈尚立;谢林庭 - 深圳市中科蓝讯科技股份有限公司
  • 2020-03-11 - 2020-11-10 - G01R31/28
  • 本实用新型提供了一种集成电路测试装置,包括控制模块、电源管理模块测试、专用模块和通用模块,其中,所述控制模块分别与电源管理模块、专用模块和通用模块连接,用于控制各模块根据相应指令执行相应操作;所述电源管理模块分别与控制模块测试连接,用于专用模块的供电;所述测试与电源管理模块和专用模块连接,为针对不同测试工序专用的不同测试;所述专用模块分别与控制模块测试和通用模块连接,用于配置待测试芯片的必要外围电路;所述通用模块分别与专用模块和控制模块连接,用于配置待测试芯片的通用电路。该测试装置不需要定制不同的专用测试电路,设计成本低,且无需频繁插拔或焊接待测试芯片,减少引脚损伤风险。
  • 集成电路测试装置

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